|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray CT analysis of the evolution of ballast grain morphology along a Micro-Deval test: key role of the asperity scale |
| Auteur: |
Deiros Quintanilla, Ivan Combe, Gaël Emeriault, Fabrice Voivret, Charles Ferellec, Jean-François |
| Verschenen in: |
Granular matter |
| Paginering: | Jaargang 21 (2019) nr. 2 pagina's 1-12 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 26 gevonden artikelen
| << vorige |