Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
 
 
  Investigation of gate-all-around silicon nanowire transistors for ultimately scaled CMOS technology from top-down approach
 
 
Titel: Investigation of gate-all-around silicon nanowire transistors for ultimately scaled CMOS technology from top-down approach
Auteur: Huang, Ru
Wang, Run-sheng
Verschenen in: Frontiers of physics in China
Paginering: Jaargang 5 (2010) nr. 4 pagina's 414-421
Jaar: 2010
Inhoud:
Uitgever: SP Higher Education Press, Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland