Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Finite element analysis of temperature distribution of polycrystalline silicon thin film transistors under self-heating stress
 
 
Titel: Finite element analysis of temperature distribution of polycrystalline silicon thin film transistors under self-heating stress
Auteur: Wang, Huaisheng
Wang, Mingxiang
Yang, Zhenyu
Verschenen in: Frontiers of electrical and electronic engineering in China
Paginering: Jaargang 4 (2009) nr. 2 pagina's 227-233
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: SP Higher Education Press, Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland