Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
 
 
  Yield modeling of elliptical defect
 
 
Titel: Yield modeling of elliptical defect
Auteur: Wang, Junping
Hao, Yue
Zhang, Zhuokui
Ren, Chunli
Li, Kang
Fang, Jianping
Verschenen in: Frontiers of electrical and electronic engineering in China
Paginering: Jaargang 2 (2007) nr. 1 pagina's 108-111
Jaar: 2007
Inhoud:
Uitgever: Higher Education Press, Beijing
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland