|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical plane approach with two families of microcracks for modelling of unilateral fatigue damage - Kritischer Ebenenansatz mit zwei Familien von Mikrorissen zur Modellierung einseitiger Ermüdungsschäden |
| Auteur: |
Zolochevsky, A. Obataya, Y. Betten, J. |
| Verschenen in: |
Forschung im Ingenieurwesen |
| Paginering: | Jaargang 66 (2000) nr. 2 pagina's 49-56 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |