|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Residual Stresses in Cu/Ni Multilayer Thin Films Measured Using the Sin2ψ Method |
| Auteur: |
McDonald, I. G. Moehlenkamp, W. M. Arola, D. Wang, J. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 59 (2018) nr. 1 pagina's 111-120 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |