|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A Robust in situ TEM Experiment for Characterizing the Fracture Toughness of the Interface in Nanoscale Multilayers |
| Auteur: |
Yan, Y. Sumigawa, T. Kitamura, T. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 58 (2018) nr. 5 pagina's 721-731 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |