|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Stress Monitoring of Post-processed MEMS Silicon Microbridge Structures Using Raman Spectroscopy |
| Auteur: |
Starman, L. Coutu, R. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 9 pagina's 1341-1353 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |