|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Electromechanical Characterization of Au Thin Films using Micro-tensile Testing |
| Auteur: |
Lee, S. J. Park, J. M. Han, S. W. Hyun, S. M. Kim, J. H. Lee, H. J. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 50 (2009) nr. 5 pagina's 643-649 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |