|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of Mechanical Properties of Thin Film by Membrane Deflection Test |
| Auteur: |
Huh, Y.-H. Kim, D.-I. Kim, D.-J. Lee, H.-M. Hong, S.-G. Park, J.-H. Kee, C.-D. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 50 (2009) nr. 4 pagina's 429-435 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |