|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A New Method for Measuring Displacements of Micro Devices by an Optical Encoding System |
| Auteur: |
Ben-David, E. Kanner, O. Shilo, D. |
| Verschenen in: |
Experimental mechanics |
| Paginering: | Jaargang 49 (2008) nr. 6 pagina's 823-827 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |