|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Bad data detection and multi-level classification of events in synchrophasor measurements using AXGBoost algorithm |
| Auteur: |
Priyadarshi, Alok Yadav, Krishna Bihari |
| Verschenen in: |
Electrical engineering |
| Paginering: | Jaargang 106 () nr. 1 pagina's 63-77 |
| Jaar: |
2023-08-11 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |