|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of Transmission Electron Microscopy and X-Ray Reflectometry Data in the Study of the Structure of Silicon-Carbon Nanocomposite Films |
| Auteur: |
Asadchikov, V. E. Volkov, Y. O. Dyachkova, I. G. Zhigalina, O. M. Kanevsky, V. M. Muslimov, A. E. Nuzhdin, A. D. Pimenov, S. M. Roshchin, B. S. Rusakov, A. A. Khmelenin, D. N. Shahbazov, S. Y. Shupegin, M. L. |
| Verschenen in: |
Crystallography reports |
| Paginering: | Jaargang 64 (2019) nr. 5 pagina's 793-797 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| volgende >> |