|
Analysis of synthetic diamond single crystals by X-ray topography and double-crystal diffractometry |
|
|
|
Titel: |
Analysis of synthetic diamond single crystals by X-ray topography and double-crystal diffractometry |
Auteur: |
Prokhorov, I. A. Ralchenko, V. G. Bolshakov, A. P. Polskiy, A. V. Vlasov, A. V. Subbotin, I. A. Podurets, K. M. Pashaev, E. M. Sozontov, E. A. |
Verschenen in: |
Crystallography reports |
Paginering: |
Jaargang 58 (2013) nr. 7 pagina's 1010-1016 |
Jaar: |
2013 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer US, Boston |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|