|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of X-ray diffraction methods in the study of micrometer-sized porous Si layers |
| Auteur: |
Lomov, A. A. Bushuev, V. A. Kartsev, A. A. Karavanskiĭ, V. A. Vasil’ev, A. L. |
| Verschenen in: |
Crystallography reports |
| Paginering: | Jaargang 54 (2009) nr. 3 pagina's 379-385 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |