|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Calibration and validation of coarse-grained models of atomic systems: application to semiconductor manufacturing |
| Auteur: |
Farrell, Kathryn Oden, J. Tinsley |
| Verschenen in: |
Computational mechanics |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 1 pagina's 3-19 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |