|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of trace impurities in semiconductor gas via cavity-enhanced direct frequency comb spectroscopy |
| Auteur: |
Cossel, K. C. Adler, F. Bertness, K. A. Thorpe, M. J. Feng, J. Raynor, M. W. Ye, J. |
| Verschenen in: |
Applied physics. B, Lasers and optics |
| Paginering: | Jaargang 100 (2010) nr. 4 pagina's 917-924 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| volgende >> |