|
TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands |
|
|
|
Titel: |
TEM, XRD and AFM study of poly(o-ethoxyaniline) films: new evidence for the formation of conducting islands |
Auteur: |
Leite, Fabio L. Alves, William F. Mir, Mirta Mascarenhas, Yvonne P. Herrmann, Paulo S. P. Mattoso, Luiz H. C. Oliveira, Osvaldo N. |
Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
Paginering: |
Jaargang 93 (2008) nr. 2 pagina's 537-542 |
Jaar: |
2008 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|