|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-resolved X-ray determination of surface strain in free-standing films of HVPE-grown GaN and 71Ga NMR characterization |
| Auteur: |
Mahadik, N.A. Qadri, S.B. Rao, M.V. Yesinowski, J.P. |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 86 () nr. 1 pagina's 67-71 |
| Jaar: |
2006-10-18 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |