|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface trap density in amorphous La2Hf2O7/SiO2 high-κgate stacks on Si |
| Auteur: |
Mereu, B. Dimoulas, A. Vellianitis, G. Apostolopoulos, G. Scholz, R. Alexe, M. |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 80 (2004) nr. 2 pagina's 253-257 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |