|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of temperature counting the effect of back gate bias on the performance of extended source tunnel FET (ESTFET) with δp+ SiGe pocket layer |
| Auteur: |
Talukdar, Jagritee Choudhuri, Bijit Mummaneni, Kavicharan |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 127 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2021-01-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |