|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 90 van 93 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness-dependent physical properties of sputtered V2O5 films and Ti/V2O5/n-Si Schottky barrier diode |
| Auteur: |
Kaya, Meltem Donmez Sertel, Buse Comert Sonmez, Nihan Akin Cakmak, Mehmet Ozcelik, Suleyman |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 126 () nr. 11 pagina's xx |
| Jaar: |
2020-10-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 90 van 93 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |