|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 59 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Specular X-ray reflectivity study of interfacial SiO2 layer in thermally annealed NiO/Si assembly |
| Auteur: |
Mitra, Subarna Chakraborty, Suvankar Menon, Krishnakumar S. R. |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 117 (2014) nr. 3 pagina's 1185-1190 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 59 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |