|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Roles of interface and oxide trap density in the kinked current behavior of Al/SiO2/Si(p) structures with ultra-thin oxides |
| Auteur: |
Lu, Han-Wei Hwu, Jenn-Gwo |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 115 (2013) nr. 3 pagina's 837-842 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |