|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Crack tip dislocation emission and nanoscale deformation fields in silicon |
| Auteur: |
Zhao, C. W. Xing, Y. M. Bai, P. C. Li, J. J. Liu, Q. L. Du, Y. G. Liu, M. H. |
| Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
| Paginering: | Jaargang 105 (2011) nr. 1 pagina's 207-210 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |