|
Measurement of wurtzite ZnO/rutile TiO2 heterojunction band offsets by x-ray photoelectron spectroscopy |
|
|
|
Titel: |
Measurement of wurtzite ZnO/rutile TiO2 heterojunction band offsets by x-ray photoelectron spectroscopy |
Auteur: |
Wang, Jun Liu, Xiang-Lin Yang, An-Li Zheng, Gao-Lin Yang, Shao-Yan Wei, Hong-Yuan Zhu, Qin-Sheng Wang, Zhan-Guo |
Verschenen in: |
Applied physics. Part A, Materials science and processing |
Paginering: |
Jaargang 103 (2010) nr. 4 pagina's 1099-1103 |
Jaar: |
2010 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|