|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 45 gevonden artikelen
| Titel: |
The Yield of SPECT/CT for Anatomical Lymphatic Mapping in Patients with Melanoma |
| Auteur: |
Ploeg, Iris M. C. van der Valdés Olmos, Renato A. Kroon, Bin B. R. Wouters, Michael W. J. M. Brekel, Michiel W. M. van den Vogel, Wouter V. Hoefnagel, Cornelis A. Nieweg, Omgo E. |
| Verschenen in: |
Annals of surgical oncology |
| Paginering: | Jaargang 16 (2009) nr. 6 pagina's 1537-1542 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 45 gevonden artikelen
| << vorige |