|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
ToF-S-SIMS molecular 3D analysis of micro-objects as an alternative to ion beam erosion at large depth: application to single inkjet dots |
| Auteur: |
Vercammen, Yannick Luppen, Jaymes Van Roost, Christiaan Van Mondt, Roel De Vangaever, Frank Vaeck, Luc Van |
| Verschenen in: |
Analytical and bioanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 405 (2013) nr. 6 pagina's 2053-2064 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 31 gevonden artikelen
| << vorige |