|
Characterization of non-stoichiometric co-sputtered Ba0.6Sr0.4(Ti1 − xFex)1 + xO3 − δ thin films for tunable passive microwave applications |
|
|
|
Titel: |
Characterization of non-stoichiometric co-sputtered Ba0.6Sr0.4(Ti1 − xFex)1 + xO3 − δ thin films for tunable passive microwave applications |
Auteur: |
Stemme, F. Geßwein, H. Drahus, M. D. Holländer, B. Azucena, C. Binder, J. R. Eichel, R.-A. Haußelt, J. Bruns, M. |
Verschenen in: |
Analytical and bioanalytical chemistry |
Paginering: |
Jaargang 403 (2011) nr. 3 pagina's 643-650 |
Jaar: |
2011 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|