|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Applications of focused ion beam SIMS in materials science |
| Auteur: |
McPhail, David S. Chater, Richard J. Li, Libing |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 161 (2008) nr. 3-4 pagina's 387-397 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |