|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of 3D Surface Reconstruction Data from Certified Depth Standards Obtained by SEM and an Infinite Focus Measurement Machine (IFM) |
| Auteur: |
Schroettner, Hartmuth Schmied, Mario Scherer, Stefan |
| Verschenen in: |
Microchimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 155 (2006) nr. 1-2 pagina's 279-284 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |