|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Development and Certification of NIST Standard Reference Materials for Relative Raman Intensity Calibration |
| Auteur: |
Etz, Edgar S. Choquette, Steven J. Hurst, Wilbur S. |
| Verschenen in: |
Microchimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 149 (2005) nr. 3-4 pagina's 175-184 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |