|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic Force Microscopy Analysis of Statistical Roughness of GaAs Surfaces Originated by Thermal Oxidation |
| Auteur: |
Klapetek, Petr Ohlídal, Ivan Navrátil, Karel |
| Verschenen in: |
Microchimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 147 (2004) nr. 3 pagina's 175-180 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 9 gevonden artikelen
| volgende >> |