|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative Depth Profiling of K-Doped Fullerene Films Using XPS and SIMS |
| Auteur: |
Oswald, Steffen Janda, Pavel Dunsch, Lothar |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 141 (2002) nr. 1-2 pagina's 79-85 |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Wien |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |