|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A Spectro-Microscopic Approach for Thin Film Analysis: Grain Boundaries in mc-Si and Sn/SnO2 Nano Particles |
| Auteur: |
Hoffmann, Patrick Mikalo, Ricardo P. Yfantis, Alexandros Batchelor, David R. Appel, Guenter Yfantis, Dimitrios Schmeißer, Dieter |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 136 (2001) nr. 3-4 pagina's 109-113 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Wien |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |