|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative Sputter Depth Profiling of Silicon- and Aluminium Oxynitride Films |
| Auteur: |
Dreer, Sabine Wilhartitz, Peter Piplits, Kurt Hutter, Herbert Kopnarski, Michael Friedbacher, Gernot |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 133 (2000) nr. 1-4 pagina's 75-87 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Wien |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |