|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
High Resolution Surface Analysis by TOF-SIMS |
| Auteur: |
Hagenhoff, Birgit |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta |
| Paginering: | Jaargang 132 () nr. 2-4 pagina's 259-271 |
| Jaar: |
2000-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Vienna, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |