Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
 
 
  XRF Analysis of Microsamples of Semiconductor Type Multielement Materials by the Thin Layer Method. Determination of Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Se, Sb, Yb
 
 
Titel: XRF Analysis of Microsamples of Semiconductor Type Multielement Materials by the Thin Layer Method. Determination of Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Se, Sb, Yb
Auteur: Jurczyk, Jerzy
Sitko, RafaƂ
Zawisza, Beata
Buhl, Franciszek
Malicka, Ewa
Verschenen in: Mikrochimica acta : micro and trace analysis
Paginering: Jaargang 132 (1999) nr. 1 pagina's 41-47
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Springer-Verlag, Wien
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland