|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
XRF Analysis of Microsamples of Semiconductor Type Multielement Materials by the Thin Layer Method. Determination of Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Se, Sb, Yb |
| Auteur: |
Jurczyk, Jerzy Sitko, Rafał Zawisza, Beata Buhl, Franciszek Malicka, Ewa |
| Verschenen in: |
Mikrochimica acta : micro and trace analysis |
| Paginering: | Jaargang 132 (1999) nr. 1 pagina's 41-47 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Wien |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| << vorige |