|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A Superresolution Approach to Perimeter Measurement |
| Auteur: |
Neal, Brent Russ, J. Christian Russ, John C. |
| Verschenen in: |
Journal of computer-assisted microscopy |
| Paginering: | Jaargang 10 (1998) nr. 1 pagina's 11-21 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring