Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of Microscale Wear in a Polysilicon-Based MEMS Device Using AFM and PEEM–NEXAFS Spectromicroscopy
 
 
Titel: Characterization of Microscale Wear in a Polysilicon-Based MEMS Device Using AFM and PEEM–NEXAFS Spectromicroscopy
Auteur: Grierson, D. S.
Konicek, A. R.
Wabiszewski, G. E.
Sumant, A. V.
Boer, M. P. de
Corwin, A. D.
Carpick, R. W.
Verschenen in: Tribology letters
Paginering: Jaargang 36 (2009) nr. 3 pagina's 233-238
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 2 van 10 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland