|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Improving dynamic domain reduction test data generation method by Euler/Venn reasoning system |
| Auteur: |
Nikravan, Esmaeel Parsa, Saeed |
| Verschenen in: |
Software quality journal |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 2 pagina's 823-851 |
| Jaar: |
2019-11-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |