|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
On detecting faults for Boolean expressions |
| Auteur: |
Chen, T. Y. Lau, M. F. Sim, K. Y. Sun, C. A. |
| Verschenen in: |
Software quality journal |
| Paginering: | Jaargang 17 (2008) nr. 3 pagina's 245-261 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 5 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |