|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of Deposition Rates in Bilayer Silicon Nitride Structures Using Ellipsometry and the Maxwell Garnett Model |
| Auteur: |
Abdelaziz Beddiaf, Medjaldi, Malika Lanani, Abderrahim Djamai, Djemouai |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 2 pagina's 208-215 |
| Jaar: |
2025-08-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |