|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the Thermal Stability of Copper Contact Junctions in Si/SiO2 Substrates |
| Auteur: |
Vorobieva, A. I. Labunov, V. A. Utkina, E. A. Khodin, A. A. Sycheva, O. A. Ezovitova, T. I. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 5 pagina's 282-294 |
| Jaar: |
2022-09-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 10 gevonden artikelen
| << vorige |