|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
The Instability of the CV Characteristics’ Capacitance When Measuring AlGaN/GaN-Heterostructures and the HEMT-Transistors Based on Them |
| Auteur: |
Enisherlova, K. L. Goryachev, V. G. Saraykin, V. V. Kapilin, S. A. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2017) nr. 8 pagina's 591-599 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |