|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of Two-Wavelength X-Ray Optical Scheme for Combined Measurements of X-Ray Specular Reflection and Diffuse Scattering to Study Multilayered Thin Film Structures |
| Auteur: |
Smirnov, D. I. Gerasimenko, N. N. Ovchinnikov, V. V. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2017) nr. 7 pagina's 523-526 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |