Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
 
 
  Modeling SiO2 leakage currents caused by electrical overloads
 
 
Titel: Modeling SiO2 leakage currents caused by electrical overloads
Auteur: Polunin, V. A.
Verschenen in: Russian microelectronics
Paginering: Jaargang 46 (2017) nr. 5 pagina's 359-364
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: Pleiades Publishing, Moscow
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 10 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland