|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Applying the in situ X-ray reflectometry method to define the nanodimensional silicon film parameters |
| Auteur: |
Smirnov, I. S. Novoselova, E. G. Egorov, A. A. Monakhov, I. S. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 43 (2014) nr. 8 pagina's 587-589 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |