Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
 
 
  Single-event-effect sensetivity characterization of LSI circuits with a laser-based and a pulsed gamma-ray testing facilities used in combination
 
 
Titel: Single-event-effect sensetivity characterization of LSI circuits with a laser-based and a pulsed gamma-ray testing facilities used in combination
Auteur: Chumakov, A. I.
Vasil’ev, A. L.
Pechenkin, A. A.
Savchenkov, D. V.
Tararaksin, A. S.
Yanenko, A. V.
Verschenen in: Russian microelectronics
Paginering: Jaargang 41 (2012) nr. 4 pagina's 221-225
Jaar: 2012
Inhoud:
Uitgever: SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland