|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Probe modification for scanning-probe microscopy by the focused ion beam method |
| Auteur: |
Konoplev, B. G. Ageev, O. A. Smirnov, V. A. Kolomiitsev, A. S. Serbu, N. I. |
| Verschenen in: |
Russian microelectronics |
| Paginering: | Jaargang 41 (2012) nr. 1 pagina's 41-50 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |